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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱:

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC

產(chǎn)品型號:HC-TSC2000

廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

所在地:北京市

更新日期:2024-09-27

產(chǎn)品簡介:

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC,廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。

產(chǎn)品特性Product characteristics
品牌華測



半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC

TSDC熱刺激電流測試儀





HC-TSC2000華測儀器熱刺激電流測試儀,其具有測試功能,設(shè)備支持測試電壓10kV,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測量引用使用低噪聲線纜,減少測試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。測試功能上也增加了高阻測試、擊穿測試、也方便擴(kuò)展介電譜等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量!





華測儀器熱刺激電流測試儀特點(diǎn):


支持的硬件:

外置6517B或其它高壓直流電源

外置的高壓放大器(+/-100V到+/-10 kV)塊體陶瓷樣品夾具

溫度控制器和溫度腔



測試功能:

熱釋電測試

漏電流測試

用戶定義激勵(lì)波形


半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC



提升了熱刺激電流測試儀量精度

HC-TSC2000熱刺激電流測試儀由華測儀器多位工程師多年開發(fā),其具有不錯(cuò)的測試功能,設(shè)備可支持測試電壓10kV,采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷,測量引用使用低噪聲線纜,減少測試導(dǎo)線的影響,同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式,減少電網(wǎng)諧波對測量儀表的干擾。同時(shí)測試功能上也增加了高阻測試、擊穿測試、也方便擴(kuò)展介電溫譜等測量功能。它能夠在不同測量條件和測量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測量!



當(dāng)您在選擇高低環(huán)境下進(jìn)行TSDC測量,您要重點(diǎn)考慮如下的問題?

在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流?;痉椒ㄊ菍⒃嚇訆A在兩電極之間,加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā),然后施加一個(gè)直流的極化電壓,經(jīng)過一段時(shí)間使樣品充分極化,以便載流子向電極漂移或偶極子充分取向,隨后降溫到低溫,使各類極化“凍結(jié)",然后以等速率升溫,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計(jì)短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜“凍結(jié)",然后以等速率升溫,同時(shí)記錄試樣經(jīng)檢流計(jì)短路的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系,即得到TSDC譜TSDC/TSC-3000  型熱激勵(lì)去極化電流測量系統(tǒng)應(yīng)用:
 廣泛應(yīng)用于電力、絕緣、生物分子等領(lǐng)域,用于研究材料性能的一些關(guān)鍵因素,諸如分子弛豫、相轉(zhuǎn)變、玻璃化溫度等等,通過TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。TSDC技術(shù)也可以比較直觀的研究材料的弛豫時(shí)間、活化能等相關(guān)的介電特性。


設(shè)備測量參數(shù)

溫度范圍: -185~600°C
控溫精度:±0.25°C
升溫斜率:10°C/min(可設(shè)定)
測試頻率 : 電壓max:10Kv
加熱方式:直流電極加熱
冷卻方式:水冷
輸入電壓:AC 220V

樣品尺寸:φ<25mm,d<4mm
電極材料:黃銅或銀
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷
低溫制冷:液氮
測試功能:TSDC

數(shù)據(jù)傳輸:RS-232

設(shè)備尺寸:180mmx210mmx50mm


熱激勵(lì)去極化、熱激勵(lì)極化、等溫極化時(shí)域、等溫電導(dǎo)率時(shí)域、等溫弛豫譜等多種測量參數(shù):樣品電流、電流密度、電荷變化、介電常數(shù)變化等(增強(qiáng)型)。



可擴(kuò)展部件

高阻計(jì)(可進(jìn)行高低溫下高阻測量)

數(shù)字源表(可進(jìn)行高低溫下四探針測量)

高壓電源(可進(jìn)行高低溫下TSDC測量)


半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀/TSDC









 

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