產品特點：
 

　　同步測量塞貝克系數和電阻系數；配置垂直或水平放樣結構，滿足不同用戶的要求，方便樣品操作；鉑金大電極設計，與樣品充分接觸，對于不均勻樣品的溫差控制；高級應用程序控溫技術，包括溫差和測量步進等高級要求；0-50K范圍的溫差可隨意設置溫差及溫差點的個數；自由升降溫，可控制溫度程序，進行升溫恒溫與降溫過程中的數據測量；溫度檢測可選S/C型熱電偶，適合測量Si系列熱電材料(SiGe,MgSi)等；熱電偶探針非K型(無需鎧裝)配置，不會產生大的接觸電阻；
 

　　熱電偶電鋸可以根據樣品尺寸調節(jié)或固定。滿足不同科研要求；
 

　　自動壓力安全保護設計，確保測試過程不會發(fā)生爆炸；
 

　　測量系統(tǒng)：柱狀，片狀，長方形，薄膜等系統(tǒng)；
 

　　可選大測試10MΩ高電阻材料系統(tǒng)；

 

　　HC5000系列測試系統(tǒng)的軟件平臺hacepro，采用labiew系統(tǒng)開發(fā)，符合導體，半導體材料的各種測試需求，具備穩(wěn)定性與安全性，并具備斷電資料的保存功能，圖像資料可保存恢復，支持新標準。兼容，XP,win7,win10系統(tǒng)。
 

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　　可按用戶要求訂制非標產品
 

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